Scanning Probe Microscopy and Nano-Matter

Department Scanning Probe Microscopy and Nano-Matter

Members

BOBBA FabrizioResponsabile Scientifico
D'AGOSTINO DOMENICOMembro
DI GIORGIO CINZIAMembro

Scanning Probe Microscopy

Il laboratorio SPnM è dotato di sistemi di microscopia e spettroscopia a scansione tunnel (STM/STS) ed a forza atomica (AFM/AFS). Di questi, due AFM/AFS operano in condizioni di pressione e temperatura ambiente e sono stati ottimizzati così da associare allo studio delle proprietà morfologiche, quello delle caratteristiche elastiche, elettriche, magnetiche ed elettro-meccaniche superficiali (Quantitative-AFM, Conductive-AFM, Kelvin Probe Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy, PiezoResponse Force Microscopy). Ad essi si aggiunge un microscopio STM/AFM che opera a temperatura ambiente ed in ultra alto vuoto (Conductive-AFM, Kelvin Probe Force Microscopy, Magnetic Force Microscopy). Esso è, inoltre, dotato di una camera di deposizione con evaporatore di tipo electron-beam per la deposizione di materiali in-situ e di un idrogenatore per la pulizia superficiale dei campioni o loro idrogenazione. Infine, il laboratorio SPnM è dotato di un microscopio STM/AFM che opera in condizioni di ultra alto vuoto (P


Deposizione di Nano-Materiali

Il laboratorio SPnM è dotato di tre sistemi di deposizione: due evaporatori di tipo electron-beam ed uno sputtering DC. Dei due electron-beam, uno è dotato di sorgente singola per la deposizione di film sottili di singoli materiali ed è integrato con la camera di preparazione di uno dei microscopi STM/AFM. L’altro è specificamente disegnato e progettato per la deposizione di multilayers ed eterostrutture ed è, pertanto, dotato di 5 crogioli per la fabbricazione di multi-materiali. Infine, lo sputtering DC è dotato di 3 catodi per la deposizione di multistrati, materiali perovskitici ed ossidi superconduttivi.

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